Hochtemperatur-QFP64/LQFP64/TQFP64 Steckdosenadapter IC Testbuchse für Elektroniklabor

Produktbeschreibung

Die Konstruktion der Steckdose bietet eine sichere und unverzichtbare für genaue Chiptests und effiziente Leistungen bei längeren Alterungstests. Diese Brennsteckdose ist für Werkstätten in der Elektronikfertigung, die Chargenalterungstests durchführen und Labors zur Überprüfung der Chipleistung und langer Stabilität sorgen. Optimiert Ihre Chip-Test-Workflows mit Burn-In-Buchse und gewährleistet Kompatibilität mit dem QFP64/LQFP64/TQFP64-Paketchip für konsistente Ergebnisse. Gewährleistet präzise Tests und Alterung des QFP64/LQFP64/TQFP64-Chips mit Brennsockel für Stabilität und Zuverlässigkeit. Für Halbleiteringenieure, elektronische Labortechniker und Mitarbeiter, die professionelle Werkzeuge für Chiptests und Alterungsprozesse benötigen.